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冲击试样缺口投影仪CST-50(夏比缺口投影仪)工作原理

文章出处:冲击试样缺口投影仪 作者:夏比缺口投影仪 人气: 时间:2020-04-24 12:23 【

冲击试样缺口投影仪CST-50(夏比缺口投影仪)工作原理      
我们做冲击试验时冲击试样是否标准,如果不标准做出的实验数据不准确会影响产品的质量,表面上看是没法判断了,冲击试样缺口投影仪可以检查夏比V型和U型冲击试样缺口加工质量从而解决了用户的困难。下面是工作原理大家可以简单了解一下。

 

冲击试验缺口投影仪发出的光线经聚光镜照射到被测物,再经物镜将被照射物体放大的轮廓投射在投影屏幕上。利用光学投影方法将被测的冲击试样V和U型缺口标准样板图对比以确定被检测的冲击试样缺口加工是否合格
根据实际需要,本仪器为单一投射照明,光源通过一系列光学元件投射在工作台上,再通过一系列光学元件将被测试样缺口轮廓清晰的投射到投影屏上。物体经二次放大和二次反射成正像,在投影屏上所看到的图形与实际试样放置的方向是一致的。
冲击试样缺口投影仪CST-50 技术参数

1

放大倍数

50×

2

投影屏尺寸

ф200mm

3

工作台位移

纵向±10mm,横向±10mm,升降±12mm(无刻度)

4

工作台转动范围

0~360о(无刻度)

5

光源

卤钨灯12V  100W

6

电源

220V  50HZ  150W

7

外形尺寸

515×224×603mm

8

重量

约18kg


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