冲击试样缺口投影仪CST-50(夏比缺口投影仪）工作原理

文章出处：冲击试样缺口投影仪作者：夏比缺口投影仪人气：次时间：2020-04-24 12:23:00 【大中小】

冲击试样缺口投影仪CST-50(夏比缺口投影仪）工作原理
我们做冲击试验时冲击试样是否标准，如果不标准做出的实验数据不准确会影响产品的质量，表面上看是没法判断了，冲击试样缺口投影仪可以检查夏比V型和U型冲击试样缺口加工质量从而解决了用户的困难。下面是工作原理大家可以简单了解一下。

冲击试验缺口投影仪发出的光线经聚光镜照射到被测物，再经物镜将被照射物体放大的轮廓投射在投影屏幕上。利用光学投影方法将被测的冲击试样V和U型缺口标准样板图对比以确定被检测的冲击试样缺口加工是否合格
根据实际需要，本仪器为单一投射照明，光源通过一系列光学元件投射在工作台上，再通过一系列光学元件将被测试样缺口轮廓清晰的投射到投影屏上。物体经二次放大和二次反射成正像，在投影屏上所看到的图形与实际试样放置的方向是一致的。
冲击试样缺口投影仪CST-50 技术参数

1	放大倍数	50×
2	投影屏尺寸	ф200mm
3	工作台位移	纵向±10mm，横向±10mm，升降±12mm(无刻度)
4	工作台转动范围	0～360о（无刻度）
5	光源	卤钨灯12V 100W
6	电源	220V 50HZ 150W
7	外形尺寸	515×224×603mm
8	重量	约18kg

冲击试样缺口投影仪CST-50(夏比缺口投影仪）工作原理

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